Beispiele für die Entwicklung röntgenoptischer Komponenten
Für diejenigen, die einen Fertigungspartner in der Röntgenoptikforschung suchen
Seit vielen Jahren unterstützt NTT-AT Synchrotronforscher bei der Entwicklung von röntgenoptischen Komponenten. Hier möchten wir Ihnen einige unserer röntgenoptischen Komponenten vorstellen, die noch nicht als Produkt veröffentlicht sind.
Fall 1. Apotisierung einer Röntgen-Fresnel-Zonenplatte
Fresnel-Zonenplatte mit verbesserter Auflösung durch stufenlos variable Absorberdicke.
In Röntgenmikroskopen, die Synchrotronstrahlung als Lichtquelle verwenden, werden im Allgemeinen Fresnel-Zonenplatten (FZPs) als Abbildungselemente eingesetzt.
NTT-AT hat eine „apodisierte FZP“ entwickelt, bei der die Dicke des Röntgenabsorbers kontinuierlich von innen nach außen verändert wird.
Durch die Verwendung dieser FZP wird es möglich, ein Röntgenmikroskop zu realisieren, das sowohl eine hohe Lichtsammelleistung als auch eine hohe Auflösung erreicht.
Darüber hinaus wurden Forschungsergebnisse, die mit diesem Gerät erzielt wurden, im Jahr 2017 von der Arbeitsgruppe von Dr. Takeuchi am Japan Synchrotron Radiation Research Institute (JASRI) veröffentlicht.
A Takeuchi et al, J. Phys.: Conf. Ser. 849 012055 (2017)
Fall 2. Sektorkondensator-Zonenplatte
Trägt zu einer gleichmäßigen Ausleuchtung des zu beobachtenden Objekts in Röntgenmikroskopen bei.
Die Sektor-Kondensor-Zonenplatte ist ein optisches Element, das für die Beleuchtung von Röntgenmikroskopen mit Synchrotronstrahlung entwickelt wurde.
Dieses optische Element hat eine Struktur, in der gleich beabstandete Beugungsgitter radial angeordnet sind, und durch Kombinieren mit einer Mittelstrahlblende und einer OSA (Apertur zum Auswählen der Beugungsordnung der Zonenplatte) und Drehen derselben eine gleichmäßige Beleuchtung des Beobachtungsziels erhalten werden können. realisiert werden können.
Die Sektor-Kondensator-Zonenplatte von NTT-AT, in der drei Arten von radial angeordneten Transmissionsabstands-Beugungsgittermustern auf einer SiC-Membran angeordnet sind, wurde für X-Imaging-Mikroskopieexperimente mit SPring-8 BL37XU verwendet und trug zur Realisierung einer stabilen Beleuchtung bei .
Im Jahr 2009 veröffentlichte die Gruppe von Dr. Takeuchi am Japan Synchrotron Radiation Research Center Forschungsergebnisse mit diesem Gerät.
A. Takeuchi et al, J. Phys.: Konf. Ser. 186 012020 (2009)
Fall 3. Röntgen-Zernike-Phasenring
Ein Transmissionselement zur Realisierung eines Röntgenphasenkontrastmikroskops.
Die Technik, die Phasendifferenz transparenter Materialien in Hell-Dunkel-Kontrast für die Detektion umzuwandeln, wird als Phasendifferenzbeobachtung bezeichnet und findet vielfältige Anwendung. Für diese Beobachtung wird ein Ringelement verwendet, das eine Phasendifferenz von λ/4 erzeugt.
Bei der Röntgenphasenkontrastbeobachtung ist ein Röntgen-Zernike-Phasenring ein Element, das den Röntgenstrahlen eine Phasendifferenz von λ/4 verleiht.
Die Ta-basierten Röntgenphasenringe von NTT-AT werden an Synchrotronstrahlungs-basierten Röntgenmikroskopen montiert und dienen der Erfassung mikroskopischer Phasenkontrastbilder.
Darüber hinaus wurden Forschungsergebnisse, die mit diesem Gerät erzielt wurden, im Jahr 2009 von der Arbeitsgruppe von Dr. Takeuchi am Japan Synchrotron Radiation Research Institute (JASRI) veröffentlicht.
A. Takeuchi et al., J. Phys.: Conf. Ser. 186 012020 (2009)
Anfragen auf Englisch
Zusätzlich zu den hier vorgestellten Produkten bietet NTT-AT ein breites Spektrum an Röntgenoptikkomponenten und unterstützt damit die Forschung und Entwicklung unserer Kunden in Bereichen wie Synchrotronstrahlungsforschung, Laseranwendungen und Industrieanlagen. Für Angebote und weitere Informationen Anfragen auf Englisch bitte.