Beispiele für die Entwicklung röntgenoptischer Komponenten

放射光を光源とするX線顕微鏡では、一般的にフレネルゾーンプレート（Fresnel Zone Plate;FZP）が結像素子として用いられています。
NTT-AT社は、X線吸収体厚みを内側から外側に向かって連続的に変化させた"アポタイゼーションFZP"を開発しました。
このFZPを用いることで、高い集光効率と高い分解能を両立させたX線顕微鏡の実現が可能となります。

なお、この素子を用いた研究成果が、高輝度光科学研究センターの竹内様のグループにより2017年に発表されました。
A Takeuchi et al, J. Phys.: Conf. Ser. 849 012055 (2017)

Die Sektor-Kondensor-Zonenplatte ist ein optisches Element, das für die Beleuchtung von Röntgenmikroskopen mit Synchrotronstrahlung entwickelt wurde.
Dieses optische Element hat eine Struktur, in der gleich beabstandete Beugungsgitter radial angeordnet sind, und durch Kombinieren mit einer Mittelstrahlblende und einer OSA (Apertur zum Auswählen der Beugungsordnung der Zonenplatte) und Drehen derselben eine gleichmäßige Beleuchtung des Beobachtungsziels erhalten werden können. realisiert werden können.

Die Sektor-Kondensator-Zonenplatte von NTT-AT, in der drei Arten von radial angeordneten Transmissionsabstands-Beugungsgittermustern auf einer SiC-Membran angeordnet sind, wurde für X-Imaging-Mikroskopieexperimente mit SPring-8 BL37XU verwendet und trug zur Realisierung einer stabilen Beleuchtung bei .

Im Jahr 2009 veröffentlichte die Gruppe von Dr. Takeuchi am Japan Synchrotron Radiation Research Center Forschungsergebnisse mit diesem Gerät.
A. Takeuchi et al, J. Phys.: Konf. Ser. 186 012020 (2009)

透明な物質の位相差を明暗のコントラストに変換し検出する手法は、位相差観察と呼ばれ様々な応用がされています。この位相差観察にはλ/4の位相差を与えるリング素子が用いられています。
X線位相差観察においてX線にλ/4の位相差を与える素子がX線ゼルニケ位相リングです。

NTT-AT社製のTa製X線位相リングは放射光を用いたX線結像顕微鏡に搭載され、顕微位相差像の検出にご利用いただいております。

なお、この素子を用いた研究成果が、高輝度光科学研究センターの竹内様のグループにより2009年に発表されました。
A. Takeuchi et al, J. Phys.: Conf. Ser. 186 012020 (2009)