Bei Problemen mit der Materialanalyse können Sie sich gerne an uns wenden.
Wir, NTT ADVANCED TECHNOLOGY (NTT-AT), haben das in NTT Laboratorien über viele Jahre gewachsene Materialanalyse-Know-how auf die Analyse von spezialisiert
Je nach Einsatzzweck unterstützen wir Ihre Forschung und Entwicklung mit einem breiten Leistungsspektrum.
Nachweisempfindlichkeit und Größe analytischer Methoden (Bild)
Wenn Sie die Maus über den Namen jeder Analysemethode in der Abbildung unten bewegen, wird die Zielgröße dieser Analyse angezeigt. Klicken Sie hier, um zur Detailseite für jede Analyse zu gelangen.
* Es funktioniert möglicherweise nicht richtig auf Smartphones und Tablets.
Morphologische Beobachtung
Vorrichtung, Materialmorphologie/-struktur, Bewertung der Zusammensetzung
Suche mittels Analysemethode
| Analyse Methode | Informationen erhalten | Anwendungsbeispiel | Oberflächenauflösung |
|---|---|---|---|
| TEMs Transmissionselektronenmikroskop |
Querschnittsstruktur | Querschnittsbeobachtung von Halbleiterbauelementen, FFT | 0,2 nm |
| FIB-SEM | Informationen wie interne Hohlräume und Defekte | Defektanalyse poröser Keramiken | |
| SEM Rasterelektronenmikroskop |
Beobachtung der Oberflächenform | Detaillierte Formbeobachtung defekter Teile | 2nm |
| AFM Rasterkraftmikroskop |
Beobachtung von mikroskopischen Oberflächenunebenheiten | Mikrorauheitsmessung von Silizium | mehrere nm |
Oberflächenanalyse
Jede Analyse erfordert Fachwissen, insbesondere hinsichtlich der Messbedingungen und der Probenvorbereitung. Unsere Stärke liegt darin, die optimale Analysemethode zu entwickeln, die auf die analytischen Ziele, den Probenzustand, die Auflösung, die Nachweisempfindlichkeit und weitere spezifische Bedingungen des Kunden zugeschnitten ist, und Analysen durchzuführen, die die tatsächlichen Informationen der Probe widerspiegeln.
Suche mittels Analysemethode
| Analyse Methode | Informationen erhalten | Anwendungsbeispiel | Analyseelement u Nachweisgrenze Konzentration |
Tiefenauflösung u Oberflächenauflösung |
|---|---|---|---|---|
| SIMS Sekundärionen-Massenspektrometrie |
Ich möchte die Konzentration von Verunreinigungen mit hoher Empfindlichkeit erhalten. | Dotierungstiefenverteilung | H～U ppb in ppm |
Einige bis mehrere zehn nm 1 bis mehrere zehn μm |
| XPS Röntgenphotoelektronenspektroskopie |
Oberflächenbeschaffenheit und chemischer Zustand | Oberflächenoxidationszustand, Oberflächenverunreinigung | Li zu U 0,1-1% |
>2nm >30 μm |
| AES Augerelektronenspektroskopie |
Informationen zur Strukturtiefe Elementaranalyse winziger Teile |
Struktur einer Dünnschicht, qualitative Schadstoffanalyse | Li zu U 0,1-1% |
>2nm >15nm |
chemische Analyse
Haupthalteausrüstung
Suche mittels Analysemethode
| Analyse Methode | Informationen erhalten | Anwendungsbeispiel | Analyseelement | Nachweisgrenze Konzentration |
|---|---|---|---|---|
| ICP-QQQ Dreifach-Quadrupol-Massenspektrometer mit induktiv gekoppeltem Plasma |
Hochempfindliche Elementaranalyse ・Lösungsanalyse ・Bruchanalyse |
Analyse von Spurenmetallen auf Si-Wafern, Spurenmetallen in der Umwelt und Verunreinigungen in reinem Wasser | Andere Elemente als Halogen, Edelgas, H, C, N, O | Unter-Ppt ~ (Abhängig vom zu messenden Objekt) |
| Ich C Ionenchromatographische Analyse |
Analyse hochempfindlicher Lösungen Qualitative und quantitative Analyse von Ionen |
Untersuchung der Reinraumatmosphäre | Anionen, Kationen, Ionen organischer Säuren | ppt in ppm (je nach Messziel) |
| TXRF Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse |
Hochempfindliche Elementaranalyse ・Zerstörungsfrei ・Berührungslos |
Kontamination der Waferoberfläche Andere Verbindungshalbleiter als Si-Substrate (Saphir, SiC, GaN usw.) |
Na zu U | 109atoms/cm2 |
| GC-MS Gaschromatograph Massenspektrometrie |
Qualitative und quantitative Analyse organischer Verbindungen, Strukturanalyse |
Identifizierung organischer Verbindungen, Strukturbestimmung, Analyse organischer Substanz während der CR | Andere Elemente als Halogen, Edelgas, H, C, N, O | ppb~ (je nach Messziel) |
| XRF Röntgenfluoreszenzanalyse |
Elementare Analyse | Qualitative Analyse der Dünnfilm-/Pulver-/Bulk-Zusammensetzung | B～U | ～0.01％ |
| ICP-AES ICP-Emissionsspektrometrie |
Spurenelementanalyse, Multi-Element-Analyse |
Zusammensetzungsanalyse verschiedener Materialien und Dünnschichten | Andere Elemente als Halogen, Edelgas, H, C, N, O | ppb~ (je nach Messziel) |
Testcharakterisierung
Wir bewerten und messen die optischen Eigenschaften optischer Kommunikationsmaterialien, Gasdurchlässigkeit, Viskoelastizität, thermophysikalische Eigenschaften und Pulvereigenschaften von Materialien.
Suche nach Analyseinhalten
| Analyseinhalte | Informationen erhalten |
|---|---|
| Gasdurchlässigkeit | (Gas-/Wasserdampf-)Durchlässigkeit |
| Viskoelastizität | Dynamische Viskoelastizität (Zug, Biegung, Torsion), Schmelzviskoelastizität |
| thermophysikalische Eigenschaften | Glasübergangspunkt des Materials, Wärmewert-/Gewichtsänderung |
| Pulvereigenschaften | Spezifische Oberfläche (BET-Methode), Partikelgrößenverteilung (Laserbeugungsmethode/dynamische Lichtstreumethode), Porenverteilung |
| Endotoxinanalyse (zeigt eine externe Seite in einem neuen Fenster an) | Endotoxinkonzentration |
Analyseablauf
Im Materialanalysezentrum von NTT-AT liefern wir nicht nur analytische Daten; wir arbeiten mit unseren Kunden zusammen, um ihre Probleme zu verstehen und die am besten geeigneten Lösungen vorzuschlagen.
Schritt 1 Anfrage (Problemeinreichung)
Bei Problemen mit der Materialbewertung können Sie sich gerne an uns wenden! Kontaktieren Sie uns gerne über das Anfrageformular oder telefonisch. Bitte teilen Sie uns soweit möglich den Probennamen, die Probenform, die Zusammensetzung usw. mit.
Schritt 2 Reichen Sie Ihre Idee ein
Wir schlagen die optimale Analysemethode basierend auf dem Problem, der Probe usw. des Kunden vor. Auf Wunsch schließen wir eine Vertraulichkeitsvereinbarung ab.
Schritt 3 Ideen prüfen
Die Anforderungen (Bedürfnisse) unserer Kunden an die Materialbewertung gehen über die einfache Materialanalyse hinaus und umfassen alles von der Entwicklung neuer Materialien bis zur Bewertung der Prozesszuverlässigkeit.
Schritt 4 Kostenvoranschlag und Plan(Vorschlag)
Wir unterbreiten Ihnen einen Kostenvoranschlag zum Liefertermin, zu den Gebühren, zum Analyseplan usw. Wenn ein Versuch erforderlich ist, können wir vorab eine Probeanalyse durchführen.
Schritt 5 Vertrag
Bei Fragen zum Angebot können Sie sich gerne an unseren Vertriebsmitarbeiter wenden. Nach Ihrer Bestellung führen wir eine Analyse durch.
Schritt 6 Ergebnisbericht
Nach Durchführung der Analyse liefern wir den Analyseergebnisbericht zusammen mit dem Lieferschein und der Quittung. Auf Wunsch informieren wir Sie vor der Auslieferung per E-Mail über die Ergebnisse.
Schritt 7 Zahlung
Bitte stempeln Sie die beiliegende Quittung zum Zeitpunkt der Lieferung ab und senden Sie sie zurück. Wir berechnen Ihnen eine Analysegebühr. Die Zahlung erfolgt grundsätzlich per Banküberweisung am Monatsende des Folgemonats.
Bitte Anfragen auf Englisch zuerst.
Unsere Analysedienstleistungen können dazu beitragen, eine Vielzahl von Herausforderungen unserer Kunden zu bewältigen.
Bitte Anfragen auf Englisch über die Schaltfläche Anfragen auf Englisch unten rechts.
*Bitte beachten Sie, dass wir Anfragen aus Übersee aufgrund von Transport- und Technologieexportbeschränkungen möglicherweise nicht berücksichtigen können.
Standortinformationen
Im NTT Atsugi R&D Center (Klicken Sie hier für eine Karte)
Standort 3-1 Morinosato Wakamiya, Stadt Atsugi, Präfektur Kanagawa 243-0124
Nächste Station Hon-Atsugi Station / Aiko-Ishida Station (Odakyu-Linie)
Klicken Sie hier für Informationen zu anderen Standorten (Hauptsitz usw.)
Wichtigste öffentliche Qualifikationen
Messzertifizierungsgeschäft: Schwingungsbeschleunigungspegel
Präfekturamt für Metrologie und Inspektion Kanagawa, Nr. 33
Registriert als anerkannte Organisation für die Messung der Arbeitsplatzumgebung.
Registrierungsnr. 14-71 des Kanagawa Labor Standards Bureau
Klicken Sie hier für weitere Zertifizierungen und offizielle Qualifikationen