Jika Anda memiliki masalah dengan analisis material, jangan ragu untuk menghubungi kami.

Kami, NTT ADVANCED TECHNOLOGY (NTT-AT), memiliki pengetahuan analisis material yang dikembangkan selama bertahun-tahun di laboratorium NTT.
Kami mendukung penelitian dan pengembangan Anda dengan berbagai jajaran layanan sesuai dengan tujuan Anda.

• Aliran analisis
• Informasi lokasi　
• Kualifikasi publik utama

Sensitivitas deteksi dan ukuran metode analisis (gambar)

Jika Anda mengarahkan mouse ke nama setiap metode analisis pada gambar di bawah, ukuran target analisis tersebut akan ditampilkan. Klik untuk membuka halaman detail untuk setiap analisis.
* Ini mungkin tidak berfungsi dengan baik di ponsel cerdas dan tablet.

• Pengamatan morfologi
• analisis permukaan　
• analisis kimia

Pengamatan morfologi

Perangkat, morfologi/struktur material, evaluasi komposisi
 

Metode analisis	Informasi yang diperoleh	Contoh aplikasi	Resolusi permukaan
TEM mikroskop elektron transmisi	Struktur penampang	Pengamatan penampang perangkat semikonduktor, FFT	0.2nm
FIB-SEM	Informasi seperti rongga internal dan cacat	Analisis cacat keramik berpori
SEM pemindaian mikroskop elektron	Pengamatan bentuk permukaan	Pengamatan bentuk terperinci dari bagian yang rusak	2nm
AFM mikroskop kekuatan atom	Pengamatan ketidakrataan mikroskopis permukaan	Pengukuran kekasaran mikro silikon	beberapa nm

 

analisis permukaan

Setiap jenis analisis memerlukan "know-how" termasuk kondisi pengukuran dan perlakuan awal. Di perusahaan kami, kami mengusulkan metode analisis yang optimal sesuai dengan berbagai kondisi seperti tujuan analisis pelanggan, kondisi sampel, resolusi dan sensitivitas deteksi, dll., dan kekuatan kami adalah melakukan analisis yang mencerminkan informasi sampel asli.
 

Metode analisis	Informasi yang diperoleh	Contoh aplikasi	elemen analisis dan Konsentrasi batas deteksi	resolusi kedalaman dan Resolusi permukaan
SIMS Spektrometri massa ion sekunder	Saya ingin mendapatkan konsentrasi pengotor dengan sensitivitas tinggi.	Distribusi kedalaman dopan	HU ppb ke ppm	Beberapa hingga beberapa puluh nm 1 hingga beberapa puluh m
XPS Spektroskopi fotoelektron sinar-X	Komposisi permukaan dan keadaan kimia	Keadaan oksidasi permukaan, kontaminasi permukaan	Li ke U 0,1-1%	> 2nm >30μm
AES Spektroskopi elektron Auger	Informasi kedalaman struktur Analisis elemen bagian menit	Struktur film tipis, analisis kualitatif kontaminan	Li ke U 0,1-1%	> 2nm >15nm

analisis kimia

Peralatan memegang utama

Metode analisis	Informasi yang diperoleh	Contoh aplikasi	elemen analisis	Konsentrasi batas deteksi
ICP-QQQ Spektrometer massa plasma induktif rangkap tiga kuadrupol	Analisis elemen sensitivitas tinggi Analisis solusi Analisis Fraktur	Analisis jejak logam pada wafer Si, jejak logam di lingkungan, dan pengotor dalam air murni	Unsur selain halogen, gas inert, H, C, N, O	Subtema ppt ~ (Tergantung pada objek yang diukur)
saya C Analisis kromatografi ion	Analisis solusi yang sangat sensitif Analisis kualitatif dan kuantitatif ion	Survei suasana kamar bersih	anion, kation, ion asam organik	ppt ke ppm (tergantung pada target pengukuran)
TXRF Analisis fluoresensi sinar-X refleksi total	Analisis elemen sensitivitas tinggi Tidak merusak Non-kontak	Kontaminasi permukaan wafer Semikonduktor majemuk selain substrat Si (safir, SiC, GaN, dll.)	Na ke U	​109 atom/ cm2
GC-MS spektrometri massa kromatografi gas	Analisis kualitatif dan kuantitatif senyawa organik, Analisis struktural	Identifikasi senyawa organik, penentuan struktur, analisis bahan organik selama CR	Unsur selain halogen, gas inert, H, C, N, O	ppb~ (tergantung pada target pengukuran)
XRF Analisis fluoresensi sinar-X	Analisis elemen	Analisis kualitatif komposisi film tipis/bubuk/massal	BU	～0.01％
ICP-AES Spektrometri emisi ICP	analisis elemen jejak, Analisis multi-elemen	Analisis komposisi berbagai bahan dan film tipis	Unsur selain halogen, gas inert, H, C, N, O	ppb~ (tergantung pada target pengukuran)

 

 

Karakterisasi tes

Kami mengevaluasi dan mengukur sifat optik bahan komunikasi optik, permeabilitas gas, viskoelastisitas, sifat termofisika, dan sifat bubuk bahan.

Konten analisis	Informasi yang diperoleh
permeabilitas gas	Permeabilitas (Gas/uap air).
Viskoelastisitas	Viskoelastisitas dinamis (ketegangan, tekukan, torsi), viskoelastisitas leleh
sifat termofisika	Titik transisi kaca bahan, nilai kalor/perubahan berat
Sifat bubuk	Luas permukaan spesifik (metode BET), distribusi ukuran partikel (metode difraksi laser/metode hamburan cahaya dinamis), distribusi pori
Analisis endotoksin　(menampilkan situs eksternal di jendela baru)	konsentrasi endotoksin

Aliran analisis

Di Pusat Analisis Material NTT-AT, kami tidak hanya menyediakan data analitis, namun juga mengusulkan metode penyelesaian masalah dengan menggunakan metode yang paling tepat, berdasarkan permasalahan yang diajukan oleh pelanggan kami.
 

Silahkan hubungi kami terlebih dahulu.

Layanan analisis kami membantu pelanggan memecahkan berbagai masalah.
Silakan hubungi kami melalui tombol kontak di kanan bawah.
*Jika permintaan Anda berasal dari luar negeri, kami mungkin tidak dapat menanggapi permintaan Anda karena masalah transportasi atau ekspor teknologi.

 

Informasi lokasi

Di dalam Pusat Litbang Atsugi NTT (Klik di sini untuk peta)
Lokasi 3-1 Morinosato Wakamiya, Kota Atsugi, Prefektur Kanagawa 243-0124
Stasiun terdekat Stasiun Hon-Atsugi / Stasiun Aiko-Ishida (Jalur Odakyu)
​Klik di sini untuk informasi tentang lokasi lain (kantor pusat, dll.)

Kualifikasi publik utama

• Kantor sertifikasi pengukuran: Tingkat percepatan getaran

Kantor Penimbangan dan Inspeksi Prefektur Kanagawa No. 33

• Terdaftar sebagai organisasi yang ditunjuk untuk pengukuran lingkungan kerja

Registrasi Biro Standar Tenaga Kerja Kanagawa No. 14-71

​Klik di sini untuk sertifikasi dan kualifikasi resmi lainnya