ソフトエラー試験サービス

小型加速器中性子源を用いたITU-T国際標準規格の試験方法に基づくソフトエラー耐力試験を実施

情報通信機器の高性能化に伴い重要性が増すソフトエラー対策

インターネット等の高速通信ネットワークに用いられる高機能、高性能の情報通信装置は小型化や省電力化が強く求められており、半導体デバイスの更なる高集積化が進んでいます。しかし、半導体デバイスの高集積化に伴い、宇宙線由来の中性子線が引き起こすソフトエラーへの対処が産業界全体の課題になっています。

弊社が提供するソフトエラー試験では、被試験装置に中性子を照射し、発生するエラーを測定および判定することで、実環境でのソフトエラー耐力を明らかにするサービスを提供します。 この試験により、故障が社会に重大な影響を与える電子機器や情報通信装置、サーバー装置などに対して、ソフトエラーによる不具合や故障発生率を予測することが可能となります。

これからの社会では、重要装置等はソフトエラーの発生を前提とした対処方法の構築が必要となり、信頼性向上にはソフトエラーの発生をリスクとして捉えた対応が求められます。

特長

弊社提供のソフトエラー試験サービスの実施により、故障やエラーが社会に重大な影響を与える電子機器や情報通信装置、サーバー装置など、ソフトエラーを原因とする故障の発生率を予測することが可能となります。また、LSIやICの設計段階での試験では、ソフトエラーの発生箇所を発見することが可能となり、早期にお客様にて対策を講じることが可能となります。

NTTのソフトエラー試験技術　

試験内容

小型加速器から被試験装置に低レベルから中性子を照射し、エラーが発生することを確認します。さらに、調整した試験レベルで故障発生率を評価して、対策の有無による効果を確認します。

仕様

中性子照射エリア	照射距離1mの場合	約140 cm (W) × 50cm (H)
	照射距離2mの場合	約200 cm (W) × 80cm (H)
試験対象装置への供給電源		AC100V/20A、AC200V/20A　※
陽子加速器(サイクロトロン)		HM-18HC / 住友重機械工業
加速エネルギー		18 MeV
加速ビーム電流		150μA　（自然界の160億倍まで加速試験可能）

※　その他の電源をご希望の場合はお問い合わせください。

試験実施場所

〒799-1393 愛媛県西条市今在家1501番地 住重アテックス株式会社内の設備を使用 https://www.shi-atex.com/company/access.php

サービスご利用の流れ

本サービスご利用の際は、事前に試験内容を打合せし、お見積りさせていただき、SHI-ATEX等の小型加速器中性子源施設にて試験を実施いたします。その後、試験結果の報告書を提出いたします。

お問い合わせ先

NTT-AT EMCセンタ　（右のボタンよりお問い合わせください）

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