光学特性評価サービス

導波路特性評価サービス

Si導波路やポリマー導波路をはじめとした導波路デバイスの評価サービスです。

光損失測定（1点法）

導波路の挿入損失を測定します。

• 測定可能波長：0.85μm、1.3μm、1.55μm
• 測定導波モード：TE、TM

※１点法で測定した結果は導波路端面での接続損失を含む値です

光損失波長依存性測定

導波路挿入損失の波長依存性スペクトルを測定します。

• 測定波長範囲：0.4～1.7μm
• 測定導波モード：TE、TM

ファイバ接続実装

光導波路、光部品へのファイバ接続、実装をお考えの方、ご相談ください。

• 光デバイスとファイバアレイの接続
• ファイバとチップの接続（マイクロキャピラリ使用）

信頼性試験

ヒートサイクル試験、恒温恒湿試験をお考えの方、ご相談ください。