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EDS広域マップ測定

全体観察と細部詳細解析を両立し、確かな視点で材料を評価

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ウィンドウレスEDS検出器をデュアル搭載したSEMで、さまざまな観察ができます。

  • 試料の広い領域(cmオーダー)でSEM像の取得、高感度での元素分布確認ができます。
  • 多数視野の高解像度データを自動取得して、ひとつの広域視野データに合成する事ができます。
  • 8インチウェハ、6インチ角形マスク、6インチウェハの傾斜観察が可能です。
ウインドウレスEDSがデュアル搭載された画像
ウインドウレスEDS検出器 (画像提供:日本電子株式会社様)

初期腐食が生じた金属板の観察例

測定の流れ

全面の状態を見た上で、腐食が顕著な箇所や特異な箇所の詳細情報を得る。
①広域のSEM・EDSデータを取得
②広域データ内の任意視野で解析
 ・ 視野サイズ: 42mm四方
 ・ 分割数  :17×23

サンプル外観(デジタルカメラ写真)

試料画像
金属表面に初期腐食と思しき模様が見られる。
(試料サイズ:40mm四方)

測定手順1:広範囲のSEM像/EDS像を取得。画像合成

画像 左から、SEM、EDS O、EDS Cu
広範囲を自動測定、画像結合(下記は視野サイズ: 42mm四方(分割数:17×23)の例)

測定手順2:任意の視野での解析

特異な箇所など任意の場所を拡大、像観察、EDSスペクトル抽出や線分析

解析1 定性分析

画像 左から、SEM、EDS O 拡大箇所を青枠で囲っている
グラフ 縦軸がintensity(Counts), 横軸がEnergy(keV)。OとCuの値が特に大きくなっている。
スペクトル

解析2 線分析

画像 左から、SEM、EDS O 画像の上下方向の中央に、左から右に青い矢印
グラフ 縦軸がIntensity(Counts)、横軸が距離(mm)。CuとOの分析。
線分析

適用例

  • ウェハ・チップ上パターンの欠陥や汚染の解析
  • 製品表面の凹凸・組成むらの解析
  • 製品表面に散在する構造の解析
  • ビーム照射耐性の弱いサンプル観察、EDS分析

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