カーボンナノチューブのHRTEM観察 ナノマテリアルのHRTEM お問い合わせ InP基板上のInPナノワイヤ、基板から成長したCNTをそのままTEM観察しました。 C60を内包したCNTはマイクログリッドに捕集して観察しました。 InPナノワイヤ C60を内包したSWCNT 基板上に成長させたSWCNTT 材料分析サービス 形態観察 透過電子顕微鏡 TEM 透過型電子顕微鏡 TEM 単結晶基板表面の研磨ダメージによる結晶欠陥観察 グラフェン(graphene)の断面TEM観察 次世代半導体材料 酸化ガリウムの原子分解能STEM観察 EDS-STEM, EELS-STEMによる原子スケールでの元素マッピング 高温環境下でのTEM/STEM観察 金属材料のTEM観察 金属多層膜の断面構造観察 Si表面の単原子ステップの断面構造観察 カーボンナノチューブのHRTEM観察 電子回折による結晶性評価 ウィークビーム法によるGaNエピ膜の転位観察 Micro-Sampling技術 収束電子線回折(CBED)法によるGaNの極性判定 走査電子顕微鏡 SEM 走査電子顕微鏡 SEM EDS広域マップ測定 大型試料のSEM観察・分析 金属材料のEBSD分析 硬軟複合材料の界面観察技術 Co-Cr合金薄膜の微細偏析構造 n-InGaAsP／InP 周期構造 LEDの断面SEM観察とEDS元素マッピング FIB-SEM FIB-SEMによる3D再構築 AFM 原子間力顕微鏡 表面分析 化学分析 環境調査・試験特性評価
