X射线光学部件开发事例
如果您正在寻找X射线光学研究的制造合作伙伴
多年来，NTT-AT一直协助同步加速器研究人员开发 X 射线光学元件。在这里，我们想介绍一些我们尚未作为产品发布的 X 射线光学元件。
Case 1.预约X射线菲涅耳区板
通过连续变化的吸收体厚度提高分辨率的菲涅耳区域板
在使用同步辐射作为光源的 X 射线显微镜中，菲涅尔波带片 (FZP) 通常用作成像元件。
NTT-AT开发了一种“渐变式菲涅尔波带片”，其中 X 射线吸收体的厚度从内到外连续变化。
利用该菲涅尔波带片，可以实现既具有高聚光效率又具有高分辨率的X射线显微镜。
此外，日本同步辐射研究所 (JASRI) Takeuchi 博士的研究小组于 2017 年发表了使用该设备的研究成果。
Takeuchi 等人，J. Phys.：Conf。爵士。 849 012055 (2017)
Case 2.扇区电容器区板
X射线成像显微镜有助于均匀照明观察对象
扇形聚光镜带板是一种光学元件，用于使用同步辐射照射 X 射线成像显微镜。
该光学元件具有放射状排列等间隔的衍射光栅的结构，通过与中心光束光阑和OSA（用于选择波带片的衍射级数的孔径）组合并旋转它，对观察目标进行均匀照明可以实现，可以实现。
NTT-AT的扇形聚光带板，其中三种放射状排列的透射间距衍射光栅图案排列在SiC膜上，用于使用SPring-8 BL37XU进行X成像显微镜实验。为实现稳定照明做出了贡献.
2009年，日本同步辐射研究中心的竹内博士课题组发表了使用该装置的研究成果。
A. Takeuchi et al, J. Phys.: Conf. Ser. 186 012020 (2009)
Case 3.X-射线Zernicke相环
实现X射线相差显微镜的透射元件
将透明物质的相位差转换为明暗对比度进行检测的方法被称为相位差观察，正在进行各种应用。该相位差观察使用给出λ/4相位差的环元件。
在X射线相位差观察中，使X射线产生λ/4相位差的元件是X射线Zernicke相位环。
NTT-AT的 Ta 基 X 射线相位环安装在基于同步辐射的 X 射线成像显微镜上，用于检测显微相位对比图像。
使用该元件的研究结果于2009年由高亮度光科学研究中心的Takeuchi先生小组宣布。
A.Takeuchi et al, J.Phys.:Conf.Ser.186 012020 (2009)
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