Längenmessskala
- Ideal für die Längen- und Winkelkalibrierung von Rastersondenmikroskopen usw. Unverzichtbar für die Auswertung feiner Muster
- Niedriger Preis und kurze Lieferzeit
* Wir können auch Sonderanfertigungen für extrem feine Strukturen mit einer Teilung von 100 nm oder weniger realisieren.
Merkmale und Spezifikationen
| Vertikaler Typ (AS100P-D) | Geneigter Typ (AS200P-A) | |
|---|---|---|
| Verwendungszweck | Längenkalibrierung, Sondenformauswertung | Winkelkalibrierung |
| Besonderheit |
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| Neigungswinkel | 90 Grad | 54,74 Grad |
| Muster-Art | 1:1 L&S (konkav außerhalb des Musterbereichs) | 400 nm L&S 400-nm-Raster 200 nm L&S 100 nmL&S oder mehr 4 Typen |
| Linienbreite (konvex). | 50～250 nm | 100～400 nm |
| Mustertiefe | 125 nm±20％ | 100–200 nm (Standard) |
| Musterbereich | 200 μm × 200 μm | 184 μm × 184 μm × 4 (Saat) |
| Substrat | Si 10 mm × 10 mm × 0,525 mmt | Si 10 mm × 10 mm × 0,525 mmt |
Wir bieten günstige Preise und schnelle Lieferung. Kontaktieren Sie uns gerne.
Vertikaler Typ (AS100P-D)
Schräge Ausführung (AS200P-A)
AFM-Beobachtungsbild(Einheit: horizontale Richtung: μm, vertikale Richtung: nm)
Beispiele für maßgefertigte Produkte
TEM-Aufnahme
