EUV/X射线分光器·光检测器
提供前所未有的光谱和光学检测解决方案
我们提供前所未有的光谱学和光电探测解决方案，例如 VUV、EUV 和软 X 射线区域中的高效宽带平场光谱仪、XAFS 设备和紧凑型 X 射线 CCD 相机。
这两种产品都被主要在欧洲和北美的大学、研究所和私营公司广泛使用，并为各种研究和开发做出了贡献。
EUV／X線分光器・光検出器 ラインナップ
光谱仪
maxLIGHTpro-高效平场光谱仪和光束剖面仪
maxLIGHT pro
提供XUV光谱仪的最大聚光和最高系统效率。集成的光束轮廓分析器为所有XUV光源提供了完整的特性评估工具。
1 nm -200 nm宽平整场的有效范围和光谱区域的自动切换大大提高了研究效率。
maxLIGHT pro VUV
40 nm -200 nm高效光谱仪与光束剖面仪相结合，是适用于所有VUV光源的完整表征工具。通过自动波长切换和即插即用扩展选项，可实现更短的XUV波长，从而提高研发灵活性。
应用示例:高次谐波发生源、阿秒科学、高强度激光与物质的相互作用
easyLIGHT XUV-紧凑型高效平场XUV光谱仪
采用无槽配置，覆盖30 nm -250 nm波长的扁平区域，效率高达20倍。是覆盖宽带的小型装置。
搭载了杂光抑制功能，提高了S/N比。
应用示例:高次谐波发生源、阿秒科学、高强度激光与物质的相互作用
easyLIGHT VUV-紧凑型VUV光谱仪
覆盖80 nm -300 nm波长范围的通用光谱仪。也可以选择单色模式。
拥有一流的光栅效率，通过闭路光栅定位提供优异的波长精度。另外，还搭载有杂光抑制功能。
应用示例:激光诱发击穿光谱法 (LIBS)、等离子发光光源的特性评价
XAFS设备
hiXAS-集成式XAS解决方案
hiXAS为广域X射线吸收微结构 (EXAFS) 和X射线吸收微结构 (XANES) 测量提供完整的研究解决方案。
将X射线球体、高分辨率光谱仪和混合光探测器组合在一起，并配有用于设备控制和数据分析的软件。
适用例:化学种类和浓度比、化合物研究、短程秩序和键长的决定
CCD/MCP
maxCAM・easyCAM-XUV/VUV相机
HP spectroscopy的紧凑型CF63足迹相机专为VUV、XUV和X射线光谱及成像应用而设计。这款相机适合在光量少的环境下拍摄。
maxCAM采用背照式传感器，最大可实现95%的量子效率。低噪音电子元件和高达-80°C环境温度的电子冷却可将暗数降到几乎可以忽略的程度。
easyCAM在100 nm -300 nm波长范围内提供40%的量子效率，这是传统XUV相机无法提供的效率。
应用示例:高次谐波观测、EUV等离子发光观测、X射线显微镜
MCP/CMOS相机-低噪声检测器
HP spectroscopy基于MCP的探测器在许多应用领域都具有卓越的性能。
在光子极少的情况下 (例如每小时几个光子)，采集时间可能长达数小时。与低噪声CMOS相机配合使用的多通道板，以1/s/cm 2的暗计数实现上述测量。
应用示例:高次谐波观测、EUV等离子发光观测、X射线显微镜
关于HP Spectroscopy
HP Spectroscopy成立于2012年，是为VUV至软X射线领域提供光谱和检测系统的专家集团。我们一直支持大学，研究机构和私营公司的研究和开发，主要在欧洲和北美。