X線圖
提供X射線顯微鏡用的解析度測試圖表。
特征
X射線顯微鏡作為高解析度成像方法應用於各個領域，但需要具有足夠高解析度的圖表來進行評估。NTT-AT的 X 射線圖具有在 SiC 和 SiN 膜上形成的高清鉭 (Ta) 吸收體圖案，用於世界各地同步加速器輻射設施的分辨率評估。
根據您的應用，您可以選擇三種類型：標準型、厚膜高解析度型和超高解析度型。我們也提供 EUV 區域的反射圖表。
標準品規格
| 條目 | 標準型 XRESO-100 |
厚膜高分辨率型 XRESO-50HC |
超高分辨率型 XRESO-20 |
|
|---|---|---|---|---|
| 帕坦 | 吸收體 | Ta, 1.0μm厚 | Ta, 500 nm厚 | Ta, 100 nm厚 |
| 最小尺寸 | 100 nm | 50 nm | 20 nm (徑向圖案) | |
| 模式區域 | 250 µm×350 µm |
300 µm×300 µm
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| 薄膜 | Ru (20 nm)/SiN (2 µm) | Ru (20 nm)/SiC (200 nm)/SiN (50 nm) | ||
| 基板 | 材質、外形 | Si, 10 mm×10 mm | ||
| 厚度 | 0.625 mm | |||
※記載的規格等為了改良產品，可能會有變更。請諒解。
代表圖案SEM像
(XRSO-20)
(XRESO-20)
(XRSO-20)
(XRESO-50HC)
圖案佈局
(1) 放射狀圖案，(2) 100 nm霍爾圖案，(3) 50 nm線條&空間圖案
(1) 放射狀圖案，(2) 50 nm線條&間距圖案
攝像示例
（株式會社東建提供）
自定義圖表制造實例
多層膜：Mo/Si，波長 13.5 nm，吸收體：Ta
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