走査電子顕微鏡 SEM 極微細構造の形態観察、故障箇所の観察を行います。SEMでの観察には前処理が必要になります。微小部の断面作製や低損傷での断面作製技術を得意としております。 走査電子顕微鏡 SEM EDS広域マップ測定 大型試料のSEM観察・分析 金属材料のEBSD分析 硬軟複合材料の界面観察技術 Co-Cr合金薄膜の微細偏析構造 n-InGaAsP／InP 周期構造 LEDの断面SEM観察とEDS元素マッピング
