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Escala de medición de longitud

  • Ideal para la calibración de longitud y ángulo de microscopios de sonda de barrido, etc. Esencial para la evaluación de patrones finos
  • Precio bajo y tiempo de entrega corto

※ ピッチ100nm以下の極微細パタンについても特注で対応いたします。

特徴・仕様

Tipo vertical (AS100P-D) Tipo inclinado (AS200P-A)
Uso Calibración de longitud, evaluación de la forma de la sonda calibración de ángulo
rasgo
  • Dado que el grabado anisotrópico se usa en un sustrato de Si (110), la forma del patrón es vertical y precisa.
  • La medición precisa de la forma de la sonda es posible gracias al alto grado de ortogonalidad
  • Dado que el grabado anisotrópico se usa en un sustrato de Si (100), el ángulo de inclinación del patrón tiene una precisión de 54,7 grados.
  • Ángulo de inclinación preciso de 54,7 grados, ideal para confirmar la reproducibilidad del equipo
ángulo de inclinación 90 grados 54,74 grados
Tipo de patrón 1:1 L&S (cóncavo fuera del área del patrón) 400 nm L&S
Grano de 400nm
200 nm L&S
100 nmL&S o más 4 tipos
Ancho de línea (convexo) 50~250 nm 100~400 nm
profundidad del patrón 125 nm±20% 100-200 nm (listo para usar)
área de patrón 200 μm × 200 μm 184 μm × 184 μm × 4 (semilla)
sustrato Si 10mm×10mm×0.525mmt Si 10mm×10mm×0.525mmt

*低価格・短納期で提供いたします。お気軽にお問合せ下さい。

垂直タイプ(AS100P-D)

Sección transversal L&S de paso de 100 nm
Sección transversal L&S de paso de 100 nm

傾斜タイプ(AS200P-A)

Imagen de observación AFM(unidad: dirección horizontal: μm, dirección vertical: nm)

Patrón L&S de paso de 400 nm
Patrón L&S de paso de 400 nm
Patrón de cuadrícula de paso de 800nm
Patrón de cuadrícula de paso de 800nm

特注品の例

TEM観察像

Sección transversal L&S de paso de 50 nm
Sección transversal L&S de paso de 50 nm