X射線光學部件開發事例
如果您正在尋找X射線光學研究的制造合作夥伴
多年來，NTT-AT一直協助同步加速器研究人員開發 X 射線光學元件。在這裡，我們想介紹一些我們尚未作為產品發布的 X 射線光學元件。
Case 1.預約X射線菲涅耳區板
通過連續變化的吸收體厚度提高解析度的菲涅耳區域板
在使用同步輻射作為光源的 X 射線顯微鏡中，菲涅耳波帶片 (FZP) 通常用作成像元件。
NTT-AT開發了一種“漸變式菲涅爾波帶片”，其中 X 射線吸收體的厚度從內到外連續變化。
利用此菲涅耳波帶片，可以實現既具有高聚光效率又具有高解析度的X射線顯微鏡。
此外，日本同步輻射研究所 (JASRI) Takeuchi 博士的研究小組於 2017 年發表了使用該設備的研究成果。
Takeuchi 等人，J. Phys.：Conf。序列。 849 012055 (2017)
Case 2.扇區電容器區板
X射線成像顯微鏡有助於均勻照明觀察對象
扇形聚光鏡帶板是一種光學元件，用於使用同步輻射照射 X 射線成像顯微鏡。
該光學元件具有放射狀排列等間隔的衍射光柵的結構，通過與中心光束光闌和OSA（用於選擇波帶片的衍射級數的孔徑）組合併旋轉它，對觀察目標進行均勻照明可以實現，可以實現。
NTT-AT的扇形聚光帶板，其中三種放射狀排列的透射間距衍射光柵圖案排列在SiC膜上，用於使用SPring-8 BL37XU進行X成像顯微鏡實驗。為實現穩定照明做出了貢獻.
2009年，日本同步輻射研究中心的竹內博士課題組發表了使用該裝置的研究成果。
A. Takeuchi et al, J. Phys.: Conf. Ser. 186 012020 (2009)
Case 3.X-射線Zernicke相環
實現X射線相差顯微鏡的透射元件
將透明物質的相位差轉換為明暗對比度進行檢測的方法被稱為相位差觀察，正在進行各種應用。該相位差觀察使用給出λ/4相位差的環元件。
在X射線相位差觀察中，使X射線產生λ/4相位差的元件是X射線Zernicke相位環。
NTT-AT的 Ta 基 X 射線相位環安裝在基於同步輻射的 X 射線成像顯微鏡上，用於檢測顯微相位對比影像。
使用該元件的研究結果於2009年由高亮度光科學研究中心的Takeuchi先生小組宣佈。
A.Takeuchi et al, J.Phys.:Conf.Ser.186 012020 (2009)
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除了本文介紹的產品外，NTT-AT還提供豐富的 X 射線光學元件，為客戶在同步輻射科學、雷射應用和工業設備等領域的研究與開發提供支援。歡迎隨時英文查詢以取得報價及其他諮詢。