EUV/X射線分光器·光檢測器
提供前所未有的光譜和光學檢測解決方案
我們提供前所未有的光譜學和光電探測解決方案,例如 VUV、EUV 和軟 X 射線區域中的高效寬帶平場光譜儀、XAFS 設備和緊湊型 X 射線 CCD 相機。
這兩種產品都被主要在歐洲和北美的大學、研究所和私營公司廣泛使用,並為各種研究和開發做出了貢獻。
EUV/X射線分光器、光檢測器系列
光譜儀
maxLIGHTpro-高效平場光譜儀和光束剖面儀

maxLIGHT pro
提供XUV光譜儀的最大聚光和最高係統效率。集成的光束輪廓分析器為所有XUV光源提供了完整的特性評估工具。
1 nm -200 nm寬平整場的有效範圍和光譜區域的自動切換大大提高了研究效率。
maxLIGHT pro VUV
40 nm -200 nm高效光譜儀與光束剖面儀相結合,是適用於所有VUV光源的完整表徵工具。通過自動波長切換和即插即用擴展選項,可實現更短的XUV波長,從而提高研發靈活性。
應用示例:高次諧波發生源、阿秒科學、高強度激光與物質的相互作用
easyLIGHT XUV-緊湊型高效平場XUV光譜儀

採用無槽配置,覆蓋30 nm -250 nm波長的扁平區域,效率高達20倍。是覆蓋寬頻的小型裝置。
搭載了雜光抑制功能,提高了S/N比。
應用示例:高次諧波發生源、阿秒科學、高強度激光與物質的相互作用
easyLIGHT VUV-緊湊型VUV光譜儀

覆蓋80 nm -300 nm波長範圍的通用光譜儀。也可以選擇單色模式。
擁有一流的光柵效率,通過閉路光柵定位提供優異的波長精度。另外,還搭載有雜光抑制功能。
應用示例:激光誘發擊穿光譜法 (LIBS)、等離子發光光源的特性評價
XAFS設備
hiXAS-集成式XAS解決方案

hiXAS為廣域X射線吸收微結構 (EXAFS) 和X射線吸收微結構 (XANES) 測量提供完整的研究解決方案。
將X射線球體、高解析度光譜儀和混合光探測器組合在一起,並配有用於設備控制和數據分析的軟體。
適用例:化學種類和濃度比、化合物研究、短程秩序和鍵長的決定
CCD/MCP
maxCAM・easyCAM-XUV/VUV相機

HP spectroscopy的緊湊型CF63足跡相機專為VUV、XUV和X射線光譜及成像應用而設計。這款相機適合在光量少的環境下拍攝。
maxCAM採用背照式感測器,最大可實現95%的量子效率。低噪音電子元件和高達-80°C環境溫度的電子冷卻可將暗數降到幾乎可以忽略的程度。
easyCAM在100 nm -300 nm波長範圍內提供40%的量子效率,這是傳統XUV相機無法提供的效率。
應用示例:高次諧波觀測、EUV等離子發光觀測、X射線顯微鏡
MCP/CMOS相機-低雜訊檢測器

HP spectroscopy基於MCP的探測器在許多應用領域都具有卓越的性能。
在光子極少的情況下 (例如每小時幾個光子),採集時間可能長達數小時。與低雜訊CMOS相機配合使用的多通道板,以1/s/cm 2的暗計數實現上述測量。
應用示例:高次諧波觀測、EUV等離子發光觀測、X射線顯微鏡
關於HP Spectroscopy
HP Spectroscopy成立於2012年,是為VUV至軟X射線領域提供光譜和檢測係統的專家集團。我們一直支持大學,研究機構和私營公司的研究和開發,主要在歐洲和北美。


