Membrana SiC/membrana SiN
Se trata de una membrana de película fina de SiC o SiN que se utiliza como soporte de muestra estándar para análisis de rayos X y análisis de haz de electrones (SEM, TEM).
Se puede personalizar para satisfacer sus necesidades como se muestra a continuación.
- Formación de película delgada de metal para usar como objetivo de película delgada o divisor de haz.
- Formación de hendiduras/orificios para uso como elemento formador de vigas.
- Membrana de espesor inferior a 50 nm (SiN) para uso como elemento de transmisión de rayos X blandos o haces de electrones
Especificaciones estándar del producto
| Sic | SiN (aislante) | |
|---|---|---|
| Material | Amorfo o policristalino | SiN amorfo |
| espesor | 100 nm - 2 μm | 50 nm - 2 μm |
| tamaño de ventana | 0,1 mm a 10 mm cuadrados (dependiendo del espesor de la película) | |
| Tamaño de la viruta de corte | Cuadrados de 2,1 mm a 20 mm | |
| espesor del marco | 0.2 mm - 0.625mm | |
| sustrato | Sustrato de Si de 4 pulgadas de diámetro | |
| opción | Recubrimiento metálico, formación de hendiduras/orificios | |
Objetivo
- Portamuestras para análisis de rayos X, haz de electrones y EUV
- Material de ventana de celda líquida para análisis químicos y biológicos.
- ventana de vacío
- Material de soporte para elemento óptico de rayos X tipo transmisión.
Ejemplo de producción
molde para cortar en cubitos
