软错误测试服务

基于ITU-T国际标准的小型加速器中子源试验方法进行软误差耐力试验

随着信息通信设备的高性能化而变得越来越重要的软件错误对策

用于因特网等高速通信网络的高性能、高性能信息通信装置被强烈要求小型化和省电力化，半导体器件的集成度进一步提高。然而，随着半导体器件的高度集成，处理由来自宇宙射线的中子射线引起的软错误已成为整个行业的问题。

在敝公司提供的软误差测试中，我们通过向测试设备照射中子并测量和确定产生的误差，提供揭示实际环境中软误差强度的服务。通过该试验，对于故障给社会带来重大影响的电子设备、信息通信设备、服务器设备等，可以预测由于软件错误引起的故障和故障率。

在未来的社会中，重要设备等需要建立以发生软错误为前提的应对方法，并且需要将发生软错误作为风险来提高可靠性。

特性

通过实施敝公司提供的软件错误测试服务，可以预测由软件错误引起的故障的发生率，例如电子设备，信息通信设备，服务器设备，这些设备的故障和错误对社会产生了严重影响。此外，在LSI和IC设计阶段的测试中，可以发现发生软错误的位置，以便客户能够尽早采取措施。

日本电信电话的软错误测试技术

测试内容

从小型加速器向被测试装置低水平照射中子，确认发生错误。此外，在调整后的测试级别评估故障发生率，以确定措施的有效性。

规格

中子照射区	照射距离1m时	约140 cm (W) ×50cm (H)
	照射距离2m时	约200 cm (W) ×80cm (H)
测试对象装置的供电		AC100V/20A、AC200V/20A　※
质子加速器 (回旋加速器)		HM-18HC/住友重机械工业
加速能		18 MeV
加速射束电流		150μA (可加速测试至自然界的160亿倍)

※如果需要其他电源，请与我们联系。

测试地点

799-1393 爱媛县西条市今宰池 1501 使用 Sumiju Atex Co., Ltd. 的设备 https://www.shi-atex.com/company/access.php

服务使用流程

利用本服务时，我们将事先讨论试验内容，进行报价，然后在SHI-ATEX等小型加速器中子源设施实施试验。那之后，提交试验结果报告书。

联系我们

NTT-AT EMC中心（请使用右侧按钮联系我们）

询问