软错误测试服务

小型加速器中性子源を用いたITU-T国際標準規格の試験方法に基づくソフトエラー耐力試験を実施

情報通信機器の高性能化に伴い重要性が増すソフトエラー対策

用于因特网等高速通信网络的高性能、高性能信息通信装置被强烈要求小型化和省电力化，半导体器件的集成度进一步提高。然而，随着半导体器件的高度集成，处理由来自宇宙射线的中子射线引起的软错误已成为整个行业的问题。

在敝公司提供的软误差测试中，我们通过向测试设备照射中子并测量和确定产生的误差，提供揭示实际环境中软误差强度的服务。通过该试验，对于故障给社会带来重大影响的电子设备、信息通信设备、服务器设备等，可以预测由于软件错误引起的故障和故障率。

在未来的社会中，重要设备等需要建立以发生软错误为前提的应对方法，并且需要将发生软错误作为风险来提高可靠性。

特性

通过实施敝公司提供的软件错误测试服务，可以预测由软件错误引起的故障的发生率，例如电子设备，信息通信设备，服务器设备，这些设备的故障和错误对社会产生了严重影响。此外，在LSI和IC设计阶段的测试中，可以发现发生软错误的位置，以便客户能够尽早采取措施。

测试方法和标准可根据ITU-TSG 5制定的ITU-T建议K.130和K.139进行国际标准测试。

1. ソフトエラーを短時間で再現
2. ITU-T規格に準拠したソフトエラーに対する機器全体の信頼性試験
3. ソフトエラー対策の有効性を検証
4. 中性子照射面積の制御
5. ソフトエラー発生率の予測
6. 小型加速器中性子源の使用
7. 予期せぬソフトエラーの発見
8. 低エネルギー中性子の影響評価

NTTのソフトエラー試験技術　

試験内容

小型加速器から被試験装置に低レベルから中性子を照射し、エラーが発生することを確認します。さらに、調整した試験レベルで故障発生率を評価して、対策の有無による効果を確認します。

规格

※　その他の電源をご希望の場合はお問い合わせください。

試験実施場所

サービスご利用の流れ

利用本服务时，我们将事先讨论试验内容，进行报价，然后在SHI-ATEX等小型加速器中子源设施实施试验。那之后，提交试验结果报告书。

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