Ini adalah sampel standar film multilayer yang digunakan untuk evaluasi resolusi arah kedalaman, pengukuran jarak, dan evaluasi sensitivitas seperti analisis SIMS, AES, XPS, dan XRF.
Kami akan memberikan sampel standar kombinasi bahan yang Anda inginkan, ketebalan film, dan jumlah lapisan.
Contoh produksi
Sampel film multilayer Si/BN
- Ini adalah sampel film laminasi yang digunakan untuk analisis arah kedalaman seperti analisis SIMS.
- Selain sampel film multi-layer periodik, kami juga menangani sampel film multi-layer non-periodik.
- Dimungkinkan juga untuk membentuk lapisan BN ultra-tipis (~0,01 nm).
Contoh evaluasi struktur penampang oleh TEM
Diagram skematis struktur multilayer Si / BN
Contoh analisis profil kedalaman SIMS
Contoh pengukuran kekasaran permukaan dengan AFM
Sampel film multilayer Si/Mo
Sampel film multilayer Si/Mo
Diagram skema struktur multilayer Si/Mo
pengukuran AES
Contoh evaluasi analisis AES
Berbagai sampel laminasi
- Kami dapat menangani film laminasi dari berbagai bahan.
- Gambar di bawah adalah contoh sampel di mana empat jenis bahan yang berbeda dilaminasi.
Contoh evaluasi struktur penampang dan diagram skematik oleh TEM
menutup