軟錯誤測試服務

基於ITU-T國際標準的小型加速器中子源試驗方法進行軟誤差耐力試驗

隨著信息通信設備的高性能化而變得越來越重要的軟體錯誤對策

用於網際網路等高速通信網路的高性能、高性能信息通信裝置被強烈要求小型化和省電力化，半導體器件的集成度進一步提高。然而，隨著半導體器件的高度集成，處理由來自宇宙射線的中子射線引起的軟錯誤已成為整個行業的問題。

在敝公司提供的軟誤差測試中，我們通過向測試設備照射中子並測量和確定產生的誤差，提供揭示實際環境中軟誤差強度的服務。通過該試驗，對於故障給社會帶來重大影響的電子設備、信息通信裝置、服務器裝置等，可以預測由於軟件錯誤引起的故障和故障率。

在未來的社會中，重要設備等需要建立以發生軟錯誤為前提的應對方法，並且需要將發生軟錯誤作為風險來提高可靠性。

特性

通過實施敝公司提供的軟件錯誤測試服務，可以預測因軟件錯誤而導衹的故障的發生率，例如電子設備、信息通信設備和服務器設備，這些設備的故障或錯誤對社會產生了重大影響。此外，在LSI和IC設計階段的測試中，可以發現發生軟錯誤的位置，以便客戶能夠盡早採取措施。

NTT的軟錯誤測試技術

測試內容

從小型加速器向被測試裝置低水平照射中子，確認發生錯誤。此外，在調整後的測試級別評估故障發生率，以確定措施的有效性。

規格

中子照射區	照射距離1m時	約140 cm (W) ×50cm (H)
	照射距離2m時	約200 cm (W) ×80cm (H)
測試對象裝置的供電		AC100V/20A、AC200V/20A　※
質子加速器 (回旋加速器)		HM-18HC/住友重機械工業
加速能		18 MeV
加速射束電流		150μA (可加速測試至自然界的160億倍)

※如果需要其他電源，請與我們聯係。

測試地點

799-1393 愛媛縣西條市今宰池 1501 使用 Sumiju Atex Co., Ltd. 的設備 https://www.shi-atex.com/company/access.php

服務使用流程

利用本服務時，我們將事先討論試驗內容，進行報價，然後在SHI-ATEX等小型加速器中子源設施實施試驗。那之後，提交試驗結果報告書。

聯係我們

NTT-AT EMC中心（請使用右側按鈕與我們聯絡）

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