軟錯誤測試服務
重現宇宙射線引起的故障
小型加速器中性子源を用いたITU-T国際標準規格の試験方法に基づくソフトエラー耐力試験を実施
情報通信機器の高性能化に伴い重要性が増すソフトエラー対策
用於網際網路等高速通信網路的高性能、高性能信息通信裝置被強烈要求小型化和省電力化，半導體器件的集成度進一步提高。然而，隨著半導體器件的高度集成，處理由來自宇宙射線的中子射線引起的軟錯誤已成為整個行業的問題。
在敝公司提供的軟誤差測試中，我們通過向測試設備照射中子並測量和確定產生的誤差，提供揭示實際環境中軟誤差強度的服務。通過該試驗，對於故障給社會帶來重大影響的電子設備、信息通信裝置、服務器裝置等，可以預測由於軟件錯誤引起的故障和故障率。
在未來的社會中，重要設備等需要建立以發生軟錯誤為前提的應對方法，並且需要將發生軟錯誤作為風險來提高可靠性。
特性
通過實施敝公司提供的軟件錯誤測試服務，可以預測因軟件錯誤而導衹的故障的發生率，例如電子設備、信息通信設備和服務器設備，這些設備的故障或錯誤對社會產生了重大影響。此外，在LSI和IC設計階段的測試中，可以發現發生軟錯誤的位置，以便客戶能夠盡早採取措施。
測試方法和標準可根據ITU-TSG 5制定的ITU-T建議K.130和K.139進行國際標準測試。
- ソフトエラーを短時間で再現
- ITU-T規格に準拠したソフトエラーに対する機器全体の信頼性試験
- ソフトエラー対策の有効性を検証
- 中性子照射面積の制御
- ソフトエラー発生率の予測
- 小型加速器中性子源の使用
- 予期せぬソフトエラーの発見
- 低エネルギー中性子の影響評価
NTTのソフトエラー試験技術
試験内容
小型加速器から被試験装置に低レベルから中性子を照射し、エラーが発生することを確認します。さらに、調整した試験レベルで故障発生率を評価して、対策の有無による効果を確認します。
規格
| 中子照射區 | 照射距離1m時 | 約140 cm (W) ×50cm (H) |
|---|---|---|
| 照射距離2m時 | 約200 cm (W) × 80cm (H) | |
| 測試對象裝置的供電 | AC100V/20A、AC200V/20A ※ | |
| 質子加速器 (回旋加速器) | HM-18HC/住友重機械工業 | |
| 加速能 | 18 MeV | |
| 加速射束電流 | 150μA (可加速測試至自然界的160億倍) | |
※ その他の電源をご希望の場合はお問い合わせください。
試験実施場所
| 799-1393 愛媛縣西條市今宰池 1501 使用 Sumiju Atex Co., Ltd. 的設備 https://www.shi-atex.com/company/access.php |
サービスご利用の流れ
利用本服務時，我們將事先討論試驗內容，進行報價，然後在SHI-ATEX等小型加速器中子源設施實施試驗。那之後，提交試驗結果報告書。